AMD reconhece problemas com a USB nas placas da série 500

Muitos proprietários de placas-mãe com chipsets da série AMD 500 reclamam de frequentes desconexões USB, fazendo com que teclados, periféricos, dispositivos de armazenamento ou mesmo headsets VR percam a conexão com o PC. Lembrando que a série de chipsets 500 é a mais recente da AMD, e foi lançada para atender, principalmente, a nova gama de processadores Ryzen,a família Ryzen 5000. 

Testes revelam que um headset VR emparelhado com uma poderosa placa de vídeo equipada com uma interface PCI-E 4.0 é a maneira mais fácil de reproduzir o problema com o USB. As opções propostas como mudar para o modo PCI-E 3.0 ou desabilitar C-States na UEFI não resolvem a falha, mas apenas reduzem a frequência de sua ocorrência.

A AMD reconheceu o problema e pede aos usuários que coletem reportem o problema. Através deste link o usuário pode preencher o formulário de report de erros da AMD. Você também pode acompanhar no Reddit a discussão sobre essa falha. 

Abaixo está a declaração da AMD sobre o problema:

A AMD está ciente dos relatos de que um pequeno número de usuários está enfrentando problemas de conectividade intermitente no USB, reportados em chipsets da série 500. Nós temos analisado a raiz desse problema e, neste momento, gostaríamos de pedir a ajuda da comunidade com uma pequena seleção de configurações adicionais de hardware. Ao longo dos próximos dias, alguns usuários do r/Amd vão ser contatados diretamente por um representante da AMD (u/AMDOfficial) através do sistema de mensagens diretas do Reddit com um pedido para mais informações.”

Essa solicitação pode incluir configurações de hardware detalhadas, etapas para reproduzir o problema, logs de eventos específicos do sistema operacional e outras informações do sistema relevantes para nossos esforços. Forneceremos informações atualizadas sobre o problema assim que estiverem disponíveis. Clientes com dificuldades são sempre incentivados a enviar uma solicitação online ao Suporte da AMD; isso nos permite correlacionar e comparar falhas de equipamentos individuais.